端子線壓接端子工藝在電氣連接系統(tǒng)可靠性研究中，壓接高度偏差是導致端子失效的主要誘因之一。本報告基于IPC/WHMA-A-620E標準，通過實驗數(shù)據(jù)揭示端子線壓接端子出現(xiàn)壓接過高與過低對連接器性能的差異化影響。

一、端子線壓接端子壓接過高的危害性分析

1. 機械性能劣化

抗拉強度下降30-50%（相比標準壓接）

振動環(huán)境下脫落風險增加5倍（MIL-STD-1344測試）

2. 電氣特性變化

參數(shù)標準值壓接過高影響接觸電阻≤5mΩ上升至8-12mΩ電流承載能力100%降低20-30%

二、端子線壓接端子壓接過低的失效模式

1. 結構損傷風險

銅絲斷裂概率提升（金相觀測顯示30%截面損傷）

端子變形量超出彈性極限（永久變形＞15%）

2. 環(huán)境適應性下降

鹽霧試驗壽命縮短至標準值的1/3（96h測試）

熱循環(huán)后接觸壓力衰減40%（-40~125℃循環(huán)）

三、端子線壓接端子高度的臨界控制參數(shù)

1. 壓接高度公差帶：

銅導體：標稱值±0.05mm

鋁導體：標稱值±0.08mm

2. 過程監(jiān)控方法：

在線激光測高儀（分辨率0.01mm）

破壞性抽檢（每500次壓接）

四、端子線壓接端子過高或過低的糾正預防措施

1. 模具磨損補償系統(tǒng)（自動調節(jié)±0.03mm）

2. 多工序防錯驗證（壓力-高度雙參數(shù)閉環(huán)控制）

本報告特別指出，壓接高度偏差導致的微動磨損是后期接觸失效的主因，建議采用截面分析結合紅外熱成像進行預防性檢測。對于航空航天等特殊領域，應執(zhí)行NASA-STD-8739.4規(guī)定的破壞性物理分析（DPA）。